2015年6月24日，"CPhI世界制药原料中国展"将迎来十五周年华诞，携手"第十届P-MEC世界制药机械、包装设备与材料中国展"，于上海浦东新国际博览中心盛大开幕。会议为期三天，囊括制药原料、原辅料与制剂、精细化工与中间体、天然提取物、合同定制、生物制药、原料药机械、制剂机械、包装机械、包装材料、实验 室仪器、环保与洁净共12大生产链，CPHI拥有强大的品牌号召力，将会吸引全国各地的专业参观商，引领全球行业新风，点燃中国制药梦想。

    大昌华嘉作为参展商将携手Rudolph，Microtrac，Elementar，Novasina，Desaga等品牌明星产品亮相本次会展，DKSH展位号N1P08，诚邀各位莅临参观。

      美国Microtrac公司
      S3500 激光粒度分析仪

仪器简介：
美国Microtrac公司的S3500系列激光粒度分析仪，原理上采用经典静态光散射技术和全程米氏理论处理，利用现代模块式设计理念，使用获得专利的三激光光源技术，配备超大角度双镜头检测系统，以对数方式排列151个高灵敏度检测单元，无需扫描，平行通道实时接受散射光信息，提供准确可靠的测量信息。多种分散方式可选，干法与湿法测量之间的转换，系统自动识别，方便快捷。S3500系列仪器完全符合ISO 13320-1粒度分析－激光衍射方法的技术标准及21 CFR PART 11 安全要求，并被荣幸地指定为NIST标准物质认证仪器。

         Nanotrac Wave 纳米粒度仪

仪器简介：
纳米粒度测量——最新动态光背散射技术
主要技术特点：
?     采用最新的动态光散射技术，引入能普概念代替传统光子相关光谱法
?     专利的异相多谱勒频移技术，较之传统的方法，获得光信号强度高出几个数量级，提高分析结果的可靠性。
?     专利的可控参比方法（CRM），能精细分析多谱勒频移产生的能谱，确保分析的灵敏度。
?     超短的颗粒在悬浮液中的散射光程设计，减少了多重散射现象的干扰，保证高浓度溶液中纳米颗粒测试的准确性。
?     专利的快速傅利叶变换算法（FFT，Fast Fourier Transform Algorithm Method）,迅速处理检测系统获得的能谱，缩短分析时间。
?     消除多种空间位阻对散射光信号的干扰，诸如光路中不同光学元器件间传输的损失，样品池位置不同带来的误差，比色皿器壁的折射与污染，分散介质的影响，多重散射的衰减等，提高灵敏度

         PartAn 3D 动态颗粒图像分析仪

仪器简介：
PartAn 3D独一无二的分析技术，除了可以记录2D分析具有的颗粒大小和形状参数外，还可以记录颗粒度信息。并且只需要一次运行即可完成颗粒的追踪功能。
多于30种的形态参数
测量范围：15um –35mm（依赖于镜头的选择）
相机系统：至少100幅/秒，最高可达500幅/秒，1400ⅹ1024像素
光源：LED频闪光源
分析时间：1-5分钟（依赖于具体样品应用）
国际标准：符合ISO 13322-2 和 ISO9276-6 标准