2025年9月10-12日，第二十届北京分析测试展览会（BCEIA 2025）在北京·中国国际展览中心（顺义馆）圆满落幕。全球分析仪器领域的领导者安东帕（Anton Paar）携多款重磅新品及创新解决方案盛大亮相，以其强大的产品阵容和丰富的现场活动，成为展会期间最具人气的展台之一，并一举斩获两项行业大奖，现场盛况空前。

新品首发，引领行业创新浪潮

本届展会上，安东帕聚焦用户需求，连续推出多款新品，成为现场关注的焦点。

密度计系列新品

东帕全新升级的 DMA 系列密度计隆重亮相。新品凭借其显著提升的测量精度与前瞻性的智能化操作设计，在展会现场引发了广泛关注，尤其吸引了来自化工、制药等领域的专业用户莅临交流，并获得高度赞誉。该系列产品成功实现了精准度、易用性及智能化的深度融合，标志着行业高性能密度测量解决方案的全新里程碑。

粒度仪创新之作

发布的激光粒度分析仪 DIF 系列凭借其创新的光学设计和分析算法，能够快速、精准地完成从纳米到豪米级别的颗粒分布测量，成为材料研究和质量控制领域的理想选择。

折光仪全新亮相

安东帕推出了全新的 Abbemat系列折光仪产品组合；该产品组合旨在为比以往更多的客户群体提供快速且准确的折射率和浓度测量手段，为多种应用领域提供灵活的解决方案。

双奖加身，彰显行业领军地位

展会期间，安东帕凭借其持续的技术创新能力和卓越的市场表现，赢得了组委会和行业媒体的高度认可，一举收获两项殊荣：