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美国康塔Porometer新技术发布会顺利召开
2010/12/16 点击 5473 次
2010年12月14日,北京粉体技术协会邀请国际著名材料特性分析仪器专业制造商——美国康塔仪器公司(Quantachrome Instruments)在北京召开了Porometer新技术发布会。有近30位来自材料、纺织、电池等研究领域的一线工作人员出席了此次发布会。



    北京粉体技术协会理事长胡荣泽教授主持了本次发布会,并表示:“微孔膜的孔特性表征中尤以孔径分布最为重要,只有有效孔径及孔径分布才能真实反映微孔膜的性能。过去,国内一直采用泡点法测定最大孔径,今天美国康塔公司推出的新产品采用的是毛细管渗透法,更能准确测定膜的有效孔径及分布。”

    美国康塔仪器公司国际销售总监Jeffrey S. Dixon先生向与会人员全面介绍了美国康塔Porometer新技术以及Porometer 3G系列新产品的技术优势与应用实例以及康塔公司建立的用Autosorb氪吸附技术测定电子溅射镀膜的孔径分析方法 。



  本次大会推出的美国康塔Porometer新技术的的测试原理为毛细管渗透法,利用Washburn方程测定薄膜孔径及渗透率,该方法没有污染,更安全更便捷,同时也是ASTM(美国材料试验学会)薄膜测定的标准方法。可广泛应用在过滤材质、微孔膜、纺织、纸张、电池、陶瓷、岩心等行业。
(来源:北京粉体技术协会)


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