中国粉体网讯  颗粒度和晶粒度是材料科学中两个不同的概念，它们分别描述了不同层次的结构特征。

颗粒度

定义：颗粒度是指粉体或分散系统中单个颗粒的大小。它通常用来描述粉体、沙子、土壤等非连续介质中个体颗粒的尺寸。

测量：颗粒度可以通过筛分、激光散射、沉降分析等多种方法来测定。

应用：颗粒度对于粉末冶金、制药、涂料、食品加工等行业非常重要，因为颗粒大小直接影响到产品的性能，比如溶解性、流动性、反应活性等。

晶粒度

定义：晶粒度是指多晶体材料内部由许多小晶体（晶粒）组成的结构中，这些晶粒的平均尺寸。

测量：晶粒度一般通过金相显微镜或扫描电子显微镜观察，并采用标准评级图或直接测量晶粒边界间距的方法来确定。

影响因素：晶粒度受到材料的热处理历史（如退火温度和时间）、冷却速率等因素的影响。细小的晶粒可以提高材料的强度和韧性，而较大的晶粒可能对材料的延展性和抗裂纹扩展能力有不利影响。

应用：晶粒度在金属合金、陶瓷和其他多晶体材料的研究与生产过程中是一个关键参数，因为它直接影响材料的机械性能、物理性质以及最终的应用表现。

以WC粉为例看二者的区别

WC粉是生产硬质合金的基本组分，是应用最广泛的硬质合金硬质相，粒度分布作为粉体重要的物性特征指数，是衡量WC颗粒均匀度的重要指标，特别是合金生产过程中对粒度有着严格的要求，粒度分布结构直接影响到合金质量，受到了人们的重视。

目前，国内外常用的WC粒度检测方法有：激光粒度仪法、X射线衍射法（XRD）、扫描电镜法（SEM）、费氏粒度法（Fsss）、氮吸附法（BET）等。然而上述方法中，大部分方法所测得的WC尺寸通常应称为“颗粒度”而非“晶粒度”。

研究人员指出，由于每个WC颗粒并非都是单晶体，因此“颗粒度”是无法表征“晶粒度”的。尽管XRD技术能获得材料晶体结构的宏观信息，但不能与微观组织结构相对应，也无从知道晶粒度的分布情况。因此需要一种新型技术，对WC粉的晶粒度及晶粒分布有一个更深入的了解。

近年来，随着材料领域的飞速发展，对材料的各种分析技术的要求不断提高，电子背散射衍射（EBSD）技术作为新型分析测试方法，备受研究学者们的关注。EBSD技术是利用晶体学信息的方法，在样品表面构建各晶粒的取向图，空间分辨率可达数十纳米，能够自动标定晶界，统计晶粒度大小，数据客观真实。

因此，相比于传统的粒度检测技术，EBSD技术可以通过对WC晶粒的取向检测，从而实现对WC粉的晶粒度及粒度分布进行统计，并做到检测结果的可视化。这为今后深入研究WC粉体性能开启了一扇新的大门。

参考来源：贺鸣等：EBSD技术在WC粉末晶粒度测量上的应用，株洲钻石切削刀具股份有限公司

（中国粉体网编辑整理/平安）

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