新机遇新挑战---粒度分析讲座邀请

新机遇新挑战---粒度分析讲座邀请
2012/05/18 点击 4823 次

“2012 新机遇新挑战”
颗粒特性分析技术讲座

邀请函

由美国贝克曼库尔特公司主办的、应用专家Matthew N Rhyner 博士主讲的“2012新机遇、新挑战---颗粒特性分析新技术讲座”将于2012 年5月23日上午 9:30 至12:30于中国北京清华大学环境学院举行。诚邀各界人仕参加。

           讲座内容：
                    ☆颗粒特性分析技术概况
                    ☆亚微米高分辨率PIDS专利技术
                    ☆干粉分散的“ 龙卷风”技术
                    ☆ 库尔特颗粒计数分析技术
                    ☆ 高浓度Zeta电位测量的FST透明电极技术
                    ☆ 固体及薄膜表面ZETA电位测量技术

贝克曼库尔特商贸（中国）有限公司

2012年5月18 日

（来源：）

奥法美嘉 \| 纳米粒度仪Nicomp Z	【展商推荐】瑞芯智造（深圳）科技有限公司
真理光学新一代粒度仪精彩亮相2026上海	【展商推荐】晶格码（青岛）智能科技有限公

奥法美嘉 | 纳米粒度仪Nicomp Z

【展商推荐】瑞芯智造（深圳）科技有限公司

真理光学新一代粒度仪精彩亮相2026上海

【展商推荐】晶格码（青岛）智能科技有限公